Le microscope électronique à balayage JEOL 840 permet l’observation à des grossissements allant de x20 à x300 000. Il est équipé d’un détecteur d’électrons rétro diffusés KE utilisé principalement pour l’imagerie en composition et d’une platine DEBEN 3 axes (XYZ) pour des déplacements automatisés de l’échantillon. Un détecteur HPGe recyclable à technologie numérique (résolutions au Mn de115ev à 1000cps et 125ev à 10 000cps), relié à un spectromètre à dispersion d’énergie (système PGT-Synergie), permet la quantification simultanée et non destructive d’échantillons géologiques depuis le bore à l’uranium avec des résolutions spatiales de 0.1-10 µm. Les sensibilités de détection dépendent de l’énergie d’excitation (1-35 kV) et de la nature des échantillons et peuvent atteindre 100 ppm avec des précisions de 5-10%. Le microscope est également équipé d’une micro-sonde X de résolution spatiale 100 µm permettant d’abaisser les limites de détection pour certains éléments à des teneurs de l’ordre du ppm (système IFG-Alprimage équipé d’un tube Rh d’excitation 5-50 kV).